发明名称 |
单晶闪烁体材料及其制造方法、放射线检测器和PET装置 |
摘要 |
本发明的单晶闪烁体材料的制造方法包括:在含有选自Li、Na、K、Rb、Cs中的1种以上、W和/或Mo、B和氧的熔剂中混合Ce化合物和Lu化合物,在800℃以上、1350℃以下的温度中加热而使上述化合物熔融的工序;和通过对熔融的上述化合物进行冷却,使组成式(Ce<sub>x</sub>Lu<sub>1-x</sub>)BO<sub>3</sub>所示且Ce的组成比例x满足0.0001≤x≤0.05的单晶析出成长的工序。 |
申请公布号 |
CN102165107B |
申请公布日期 |
2014.04.16 |
申请号 |
CN200980138423.7 |
申请日期 |
2009.09.28 |
申请人 |
日立金属株式会社 |
发明人 |
奥田裕之;冈本直之;伊藤进朗 |
分类号 |
C30B29/22(2006.01)I;C09K11/00(2006.01)I;C09K11/08(2006.01)I;C09K11/78(2006.01)I;G01T1/202(2006.01)I |
主分类号 |
C30B29/22(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
代理人 |
龙淳 |
主权项 |
一种单晶闪烁体材料的制造方法,其特征在于,包括:准备含有选自Li、Na、K、Rb、Cs中的至少1种以上、W和/或Mo、B和氧的熔剂的工序,将Ce化合物和Lu化合物与所述熔剂混合,在800℃以上、1350℃以下的温度中加热而使所述化合物熔融的工序,和通过对熔融的上述化合物进行冷却,使组成式(Ce<sub>x</sub>Lu<sub>1‑x</sub>)BO<sub>3</sub>所示且Ce的组成比例x满足0.0001≤x≤0.05的单晶析出成长的工序。 |
地址 |
日本东京都 |