发明名称 透过波长1700nm以上的火焰探测滤光片
摘要 本实用新型所设计的一种峰值透过率高,能极大的提高信噪比,提高火焰探测精度的透过波长1700nm以上的火焰探测滤光片,包括以Si为原材料的基板,以Si、SiO2为第一镀膜层和以Si、SiO2为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,该透过波长1700nm以上的火焰探测滤光片,其T=50%,波长:1700±50nm,在火焰探测过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度。该滤光片1750~4000nm、Tavg≥92%,400~1100nm、Tavg≤0.5%。
申请公布号 CN203551820U 申请公布日期 2014.04.16
申请号 CN201320777760.4 申请日期 2013.11.29
申请人 杭州麦乐克电子科技有限公司 发明人 王继平;吕晶;刘晶
分类号 G02B5/20(2006.01)I 主分类号 G02B5/20(2006.01)I
代理机构 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人 周豪靖
主权项 一种透过波长1700nm以上的火焰探测滤光片,包括以Si为原材料的基板,以Si、SiO2为第一镀膜层和以Si、SiO2为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:110nm厚度的Si层、64nm厚度的SiO2层、130nm厚度的Si层、156nm厚度的SiO2层、84nm厚度的Si层、253nm厚度的SiO2层、75nm厚度的Si层、227nm厚度的SiO2层、96nm厚度的Si层、182nm厚度的SiO2层、103nm厚度的Si层、217nm厚度的SiO2层、70nm厚度的Si层、267nm厚度的SiO2层、51nm厚度的Si层和514nm厚度的SiO2层;所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:56nm厚度的Si层、57nm厚度的SiO2层、111nm厚度的Si层、108nm厚度的SiO2层、88nm厚度的Si层、103nm厚度的SiO2层、67nm厚度的Si层、106nm厚度的SiO2层、81nm厚度的Si层、169nm厚度的SiO2层、52nm厚度的Si层和494nm厚度的SiO2层。
地址 311188 浙江省杭州市钱江经济开发区兴国路503-2-101