发明名称 |
透过波长1700nm以上的火焰探测滤光片 |
摘要 |
本实用新型所设计的一种峰值透过率高,能极大的提高信噪比,提高火焰探测精度的透过波长1700nm以上的火焰探测滤光片,包括以Si为原材料的基板,以Si、SiO2为第一镀膜层和以Si、SiO2为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,该透过波长1700nm以上的火焰探测滤光片,其T=50%,波长:1700±50nm,在火焰探测过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度。该滤光片1750~4000nm、Tavg≥92%,400~1100nm、Tavg≤0.5%。 |
申请公布号 |
CN203551820U |
申请公布日期 |
2014.04.16 |
申请号 |
CN201320777760.4 |
申请日期 |
2013.11.29 |
申请人 |
杭州麦乐克电子科技有限公司 |
发明人 |
王继平;吕晶;刘晶 |
分类号 |
G02B5/20(2006.01)I |
主分类号 |
G02B5/20(2006.01)I |
代理机构 |
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 |
代理人 |
周豪靖 |
主权项 |
一种透过波长1700nm以上的火焰探测滤光片,包括以Si为原材料的基板,以Si、SiO2为第一镀膜层和以Si、SiO2为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:110nm厚度的Si层、64nm厚度的SiO2层、130nm厚度的Si层、156nm厚度的SiO2层、84nm厚度的Si层、253nm厚度的SiO2层、75nm厚度的Si层、227nm厚度的SiO2层、96nm厚度的Si层、182nm厚度的SiO2层、103nm厚度的Si层、217nm厚度的SiO2层、70nm厚度的Si层、267nm厚度的SiO2层、51nm厚度的Si层和514nm厚度的SiO2层;所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:56nm厚度的Si层、57nm厚度的SiO2层、111nm厚度的Si层、108nm厚度的SiO2层、88nm厚度的Si层、103nm厚度的SiO2层、67nm厚度的Si层、106nm厚度的SiO2层、81nm厚度的Si层、169nm厚度的SiO2层、52nm厚度的Si层和494nm厚度的SiO2层。 |
地址 |
311188 浙江省杭州市钱江经济开发区兴国路503-2-101 |