发明名称 | 特征提取装置、特征提取程序、以及图像处理装置 | ||
摘要 | 本发明提供特征提取装置,该特征提取装置能够在抑制物体检测精度降低且抑制处理负荷增加的状态下根据更多的像素生成局部二值模式。该特征提取装置包括对关注像素设定多个子区域的子区域设定单元(433)、以及对每个关注像素生成表示与各子区域之间的像素值比较的局部二值模式的二值模式生成单元(434),子区域设定单元(433)至少将由多个像素构成的区域设定为子区域且该多个像素包含从关注像素离开的像素,二值模式生成单元(434)对每个子区域计算代表值(437),生成表示该代表值相对于关注像素的像素值的差值(438)是否在规定阈值以上的局部二值模式(439)。 | ||
申请公布号 | CN103733224A | 申请公布日期 | 2014.04.16 |
申请号 | CN201280038798.8 | 申请日期 | 2012.07.31 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 曹芸芸;西村洋文;S.普拉纳塔;Z.H.牛 |
分类号 | G06T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 郑海涛 |
主权项 | 特征提取装置,包括:子区域设定单元,对图像的全部或部分像素中的每个像素,以该像素为关注像素,对该关注像素设定多个子区域;以及二值模式生成单元,对每个所述关注像素,生成利用比特值表示与所设定的所述多个子区域的每个子区域之间的像素值比较的局部二值模式,所述子区域设定单元至少将由多个像素构成的区域设定为所述子区域,且该多个像素包含从所述关注像素离开的像素,所述二值模式生成单元对每个所述子区域计算代表构成该子区域的一个或多个像素的像素值组的代表值,生成利用比特值表示该代表值相对于所述关注像素的像素值的差值是否在规定阈值以上的比特数据,作为所述局部二值模式。 | ||
地址 | 日本大阪府 |