发明名称 中心波长4800nm的航空尾气气体检测滤光片
摘要 本实用新型所设计的一种测试精度高、能极大提高信噪比的中心波长4800nm的航空尾气气体检测滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Si、SiO为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,该中心波长4800nm的航空尾气气体检测滤光片,其中心波长4800±50nm,其在航空尾气气体检测过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度。该滤光片的峰值透过率Tp≥80%、带宽=300±20nm,400~7000nm(除通带外),Tavg<0.5%。
申请公布号 CN203551823U 申请公布日期 2014.04.16
申请号 CN201320777852.2 申请日期 2013.11.29
申请人 杭州麦乐克电子科技有限公司 发明人 王继平;吕晶;胡伟琴
分类号 G02B5/20(2006.01)I;G02B1/00(2006.01)I 主分类号 G02B5/20(2006.01)I
代理机构 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人 周豪靖
主权项 一种中心波长4800nm的航空尾气气体检测滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Si、SiO为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:178nm厚度的Ge层、260nm厚度的SiO层、104nm厚度的Ge层、394nm厚度的SiO层、114nm厚度的Ge层、20nm厚度的SiO层、189nm厚度的Ge层、381nm厚度的SiO层、85nm厚度的Ge层、338nm厚度的SiO层、144nm厚度的Ge层、196nm厚度的SiO层、187nm厚度的Ge层、583nm厚度的SiO层、136nm厚度的Ge层、241nm厚度的SiO层、253nm厚度的Ge层、677nm厚度的SiO层、151nm厚度的Ge层、219nm厚度的SiO层、217nm厚度的Ge层、689nm厚度的SiO层、259nm厚度的Ge层、197nm厚度的SiO层、119nm厚度的Ge层和120nm厚度的SiO层;所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:350nm厚度的Si层、2769nm厚度的SiO层、350nm厚度的Si层、692nm厚度的SiO层、350nm厚度的Si层、2769nm厚度的SiO层、350nm厚度的Si层、692nm厚度的SiO层、350nm厚度的Si层、692nm厚度的SiO层、350nm厚度的Si层、1385nm厚度的SiO层、350nm厚度的Si层、692nm厚度的SiO层、399nm厚度的Si层和660nm厚度的SiO层。
地址 311188 浙江省杭州市钱江经济开发区兴国路503-2-101