一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法

摘要

本发明公开了一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法，本发明属于无线定位技术领域，涉及一种以nanoLOC芯片的测量结果为基础，通过数据融合技术来减少多径效应对测距结果影响的方法。其特征是：该方法用于基于nanoLOC芯片构成的定位系统中，在测量基站与移动站的距离过程中，首先读取nanoLOC芯片的测距结果d和RSSI(接收信号强度指示)值r，之后利用d与r计算出一个校正参数，再利用该校正参数对测距结果进行校证，得到最终测距结果。

主权项

1.一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法，其特征在于： （1）启动nanoLOC芯片的一次测距过程，在测距结束后，读取其测距结果和RSSI值； （2）将读取的测距结果代入公式（1）中： r'＝K×d                 （1） 其中d是从nanoLOC芯片中读取的测距结果，K是比例常数；r'是计算得到的RSSI的参考值，该值是在无多径环境下，测距结果为d时的RSSI值； （3）将RSSI的参考值r'与从nanoLOC芯片中读取的RSSI值r代入下式： Δr＝r'-r               （2） 式中Δr是RSSI的参考值与读到的RSSI值的差；再将该差值代入公式（3）即得到校正参数C； （4）利用式（3）得到的校正参数C对测距结果d按照公式（4）进行修正，得到最终测距结果d₀