| 摘要 |
<p>Offenbart wird ein Testschaltkreis und ein Prüfverfahren. Der Testschaltkreis umfasst: einen analogen Signalgenerator (5), welcher dazu konfiguriert ist, ein analoges Ausgangssignal (s5(t)) in Übereinstimmung mit einem Taktparameter zu erzeugen; einen Analog-Digital-Wandler (ADW) (7), welcher dazu konfiguriert ist, das analoge Ausgangssignal zu empfangen und ein erstes digitales Ausgangssignal (s7(k)) in Abhängigkeit von dem analogen Signal (s1(t)) zu erzeugen; einen konfigurierbaren digitalen Signalgenerator (6), welcher dazu konfiguriert ist, zumindest ein zweites digitales Ausgangsignal (s6(k); s61(k), s62(k)) in Übereinstimmung mit dem Taktparameter zu erzeugen, wobei der digitale Signalgenerator (6) zusätzlich konfiguriert ist, zumindest ein Einstellungssignal (S83) zu empfangen und zumindest eines aus einem Offset und einer Amplitude des digitalen Signals (s6(k)) in Abhängigkeit von dem zumindest einen Einstellungssignal (S83) einzustellen; ein Evaluierungsschaltkreis (8), welcher dazu konfiguriert ist, das erste digitale Ausgangssignal (s7(k)) von dem ADW (7) und das zweite digitale Ausgangsignal (s6(k)) von dem digitalen Signalgenerator (6) zu empfangen, das erste digitale Ausgangsignal (s7(k)) und das zweite digitale Ausgangssignal (s6(k)) zu vergleichen und basierend auf diesem Vergleich zumindest einen Fehlerparameter des ADW (7) zu bestimmen.</p> |
