发明名称 |
电容检测电路 |
摘要 |
本实用新型涉及检测电路,公开了一种电容检测电路。该电容检测电路,包含积分电容Ci、待检测电容Cs、电流源A、运算放大器A0和信息处理芯片;待检测电容Cs、积分电容Ci和电流源A的一端分别与运算放大器A0的正输入端相连,待检测电容Cs和电流源A的另一端接地,积分电容Ci的另一端与运算放大器A0的输出端相连,运算放大器A0的负输入端接地,这样接通电路后,待检测电容Cs上的电荷将一部分通过一个电流源A转移,另一部分电荷则转移至积分电容Ci上,这样就可以在不额外增加积分电容Ci面积的前提下减小一次电荷转移过程中运算放大器A0输出端电压变化的大小△Vout,进而增大检测的电容值范围,由于在检测过程中并不降低检测电压,也不会引起信噪比的下降。 |
申请公布号 |
CN203535119U |
申请公布日期 |
2014.04.09 |
申请号 |
CN201320445607.1 |
申请日期 |
2013.07.24 |
申请人 |
泰凌微电子(上海)有限公司 |
发明人 |
张耀国;谢循;吴涛;金海鹏;郑明剑;盛文军 |
分类号 |
G01R27/26(2006.01)I;G01R15/08(2006.01)I;G06F3/044(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/26(2006.01)I |
代理机构 |
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 |
代理人 |
成丽杰 |
主权项 |
一种电容检测电路,其特征在于,包含积分电容Ci、待检测电容、电流源Cs、运算放大器A0和信号处理芯片; 所述待检测电容Cs的一端与所述运算放大器A0的正输入端相连,另一端接地; 所述积分电容Ci的一端与所述运算放大器A0的正输入端相连,另一端与所述运算放大器A0的输出端相连; 所述电流源A的一端与所述运算放大器A0的正输入端相连,另一端接地; 所述运算放大器A0的负输入端接地; 所述信号处理芯片的一端与所述运算放大器A0的输出端相连,另一端输出检测到的待检测电容Cs的电容值。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1500号3号楼 |