发明名称 一种检测微通道板暗计数的装置
摘要 本发明提出了一种检测微通道板暗计数的装置,包括用于测试MCP性能的真空腔室、电极引线、光子计数成像探测器、电子读出电路、数据采集与处理单元以及电源;光子计数成像探测器设置在真空腔室内;电子读出电路、数据采集与处理单元依次与真空腔室连接;电源与电极引线、光子计数成像探测器连接。本发明检测微通道板暗计数的装置,利用“光子计数成像技术”能够同时得到MCP暗计数的数量、位置分布和脉冲高度分布(PHD)等信息,为光子计数成像探测、粒子探测和微光成像等应用提供筛选低噪声MCP的技术。
申请公布号 CN103713306A 申请公布日期 2014.04.09
申请号 CN201310704575.7 申请日期 2013.12.19
申请人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明人 刘永安;盛立志;刘哲;李林森;赵宝升
分类号 G01T1/00(2006.01)I 主分类号 G01T1/00(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 倪金荣
主权项 一种检测微通道板暗计数的装置,其特征在于:包括用于测试MCP性能的真空腔室、电极引线、光子计数成像探测器、电子读出电路、数据采集与处理单元以及电源;所述光子计数成像探测器设置在真空腔室内;电子读出电路、数据采集与处理单元依次与真空腔室连接;电源与电极引线、光子计数成像探测器连接。
地址 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号