发明名称 |
一种检测微通道板暗计数的装置 |
摘要 |
本发明提出了一种检测微通道板暗计数的装置,包括用于测试MCP性能的真空腔室、电极引线、光子计数成像探测器、电子读出电路、数据采集与处理单元以及电源;光子计数成像探测器设置在真空腔室内;电子读出电路、数据采集与处理单元依次与真空腔室连接;电源与电极引线、光子计数成像探测器连接。本发明检测微通道板暗计数的装置,利用“光子计数成像技术”能够同时得到MCP暗计数的数量、位置分布和脉冲高度分布(PHD)等信息,为光子计数成像探测、粒子探测和微光成像等应用提供筛选低噪声MCP的技术。 |
申请公布号 |
CN103713306A |
申请公布日期 |
2014.04.09 |
申请号 |
CN201310704575.7 |
申请日期 |
2013.12.19 |
申请人 |
中国科学院西安光学精密机械研究所 |
发明人 |
刘永安;盛立志;刘哲;李林森;赵宝升 |
分类号 |
G01T1/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01T1/00(2006.01)I |
代理机构 |
西安智邦专利商标代理有限公司 61211 |
代理人 |
倪金荣 |
主权项 |
一种检测微通道板暗计数的装置,其特征在于:包括用于测试MCP性能的真空腔室、电极引线、光子计数成像探测器、电子读出电路、数据采集与处理单元以及电源;所述光子计数成像探测器设置在真空腔室内;电子读出电路、数据采集与处理单元依次与真空腔室连接;电源与电极引线、光子计数成像探测器连接。 |
地址 |
710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 |