发明名称 一种改善硅片翘曲度的深沟槽制造方法
摘要 本发明公开了一种改善硅片翘曲度的深沟槽制造方法,包括如下步骤:⑴在硅片上利用光刻掩膜版曝出硅片上所有结构单元的深沟槽图形;所述的单个结构单元内的深沟槽图形是旋转对称图形;所述硅片上所有结构单元排列也是旋转对称的;⑵采用干法刻蚀工艺制作指定的深度和特征尺寸的深沟槽;⑶对深沟槽进行填充。本发明通过改变深沟槽图形的形状,采用具有旋转对称性的图形或组合图形,保证硅片在对称的方向上的接触界面面积基本相等,从而保证硅片上各个方向的应力对称分布,确保不会在某一个方向上的应力过大。这种方法能够使得硅片各个方向的翘曲度比较均匀,从而极大地改善硅片的翘曲度。
申请公布号 CN103715130A 申请公布日期 2014.04.09
申请号 CN201210378133.3 申请日期 2012.09.29
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 成鑫华;许升高;程晓华
分类号 H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L21/762(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 王函
主权项 一种改善硅片翘曲度的深沟槽制造方法,其特征在于:包括如下步骤:⑴在硅片上利用光刻掩膜版曝出硅片上所有结构单元的深沟槽图形;所述的单个结构单元内的深沟槽图形是旋转对称图形;所述硅片上所有结构单元排列也是旋转对称的;⑵采用干法刻蚀工艺制作指定的深度和特征尺寸的深沟槽;⑶对深沟槽进行填充。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号