| 主权项 |
一种磁瓦表面缺陷检测方法，其特征在于：包括：a）、图像ROI区域生成方法，在所述ROI区域生成方法中，计算图像以X轴中心位置，沿整个Y轴方向的灰度直方图，根据中心位置的灰度值特征检测是否有磁瓦图像存在，如果没有则以L间距向两边扩展搜索，以同样方式搜索以Y轴中心位置，X轴方向；b）、图像掩膜生成方法，在所述掩膜生成方法中，包括高斯滤波，获得降噪后的图像；求模，获得对比度高的图像；轮廓提取，以获得完整磁瓦区域；轮廓面积计算，以确定是否获得磁瓦真实轮廓；在所述步骤b）中，对读入的图像首先要进行高斯滤波，得到一个降噪的图像；掩膜之后，调用动态阈值分割函数，将缺陷以及纹理显示处理，动态分割之后，调用纹理处理函数，然后再调用纹理消除函数，消除纹理，以便将缺陷与纹理分离，正确消除纹理之后，得到的将是仅有磁瓦整体轮廓和缺陷轮廓，用形态学处理将磁瓦外部轮廓去除，然后对图像与高斯滤波后的图形做比较，求出模，以此模作为Canny算子轮廓提取的图像；得到轮廓之后，要对轮廓进行面积计算，然后对磁瓦的面积做理论计算，此理论面积仅计算一次，然后存储在数据库中，供下一次调用；如果数据库中已经存在此参数，则直接调用；得到轮廓面积参数AC后，与带有一定松弛量β,α的理论面积At做比较，如果满足β* At> AC>α*At，并将掩膜数据同时返回，如果不能满足上式，则提示掩膜失败；c）、磁瓦缺陷分类方法，在所述分类方法中，对分类结果进行再选择，将新类型加入数据库，并将分类结果返回到调用函数中。 |
