发明名称 |
快门装置以及光刻设备 |
摘要 |
本实用新型提出一种快门装置,具有一使光束通过的光通道,以及围绕一第一转轴旋转的第一叶片,所述第一转轴位于所述光通道旁,所述第一叶片位于第一静止位置时,所述光束完全通过所述光通道,所述第一叶片位于第二静止位置时,所述光束全不通过所述光通道,所述快门装置还具有一可检测所述第一叶片透光性的第一探测器。本实用新型还提出一种包括所述快门装置的光刻设备。在本实用新型提供的快门装置以及光刻设备中,所述第一探测器通过检测所述第一叶片透光性,可以及时发现所述第一叶片是否被击穿,从而可以保证所述第一叶片可以完全阻挡所述光束,从而提高光刻的准确度,提高产品的良率。 |
申请公布号 |
CN203535380U |
申请公布日期 |
2014.04.09 |
申请号 |
CN201320672375.3 |
申请日期 |
2013.10.29 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
发明人 |
胡虎;王宇霆;黄俊 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01)I |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种光刻设备的快门装置,其特征在于,所述快门装置具有一使光束通过的光通道,以及围绕第一转轴旋转的一第一叶片,其中,所述第一转轴位于所述光通道旁,所述第一叶片具有第一静止位置以及第二静止位置,所述第一叶片位于所述第一静止位置时,所述光束完全通过所述光通道,所述第一叶片位于所述第二静止位置时,所述光束全不通过所述光通道,所述快门装置还具有一可检测所述第一叶片透光性的第一探测器。 |
地址 |
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区(亦庄)文昌大道18号 |