发明名称 |
双相介金属互连结构及其制作方法 |
摘要 |
一种双相介金属互连结构及其制作方法。所述双相介金属互连结构介于芯片与载板之间,包括第一介金属相、第二介金属相、第一焊接金属层以及第二焊接金属层。第二介金属相包覆第一介金属相,且第一介金属相与第二介金属相含有不同的高熔点金属。第一焊接金属层与第二焊接金属层分别配置于第二介金属相的相对两侧,其中第一介金属相是用以填补第二介金属相形成时产生的微孔洞缺陷。 |
申请公布号 |
CN103715178A |
申请公布日期 |
2014.04.09 |
申请号 |
CN201210459988.9 |
申请日期 |
2012.11.15 |
申请人 |
财团法人工业技术研究院 |
发明人 |
张景尧;张道智;庄东汉;李俊彦 |
分类号 |
H01L23/538(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/538(2006.01)I |
代理机构 |
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 |
代理人 |
祁建国;梁挥 |
主权项 |
一种双相介金属互连结构,介于一芯片与一载板之间,其特征在于所述结构包括:第一介金属相;第二介金属相,包覆该第一介金属相,且该第一介金属相与该第二介金属相分别含有不同的高熔点金属;以及第一焊接金属层与第二焊接金属层,分别配置于该第二介金属相的相对两侧;其中该第一介金属相是用以填补该第二介金属相形成时因体积收缩而产生的微孔洞缺陷。 |
地址 |
中国台湾新竹县竹东镇中兴路四段195号 |