发明名称 核级仪表测温原件的焊缝保护结构
摘要 本发明公开了一种保护直径较细的测温元件的焊缝结构,涉及测温仪表领域。本发明一种核级仪表测温原件的焊缝保护结构,其中,包括一测温元件,所述测温原件上套设有一过渡管;所述测温元件上还套设有一第一保护套、一第二保护套,所述第一保护套设置在所述过渡管的一侧并与所述过渡管焊接,所述第二保护套设置在所述过渡管的另一侧并与所述过渡管焊接,所述第一保护套、所述第二保护套铆紧在所述测温元件上。本发明有效避免了仪表测温原件受到强水流和气流冲击造成的测温原件损坏,通过在测温原件上安装过渡管与保护套把受力点转移到保护套和测温元件机械铆紧点上,而机械铆紧不会损伤测温元件。
申请公布号 CN103712703A 申请公布日期 2014.04.09
申请号 CN201310744654.0 申请日期 2013.12.31
申请人 上海自动化仪表股份有限公司 发明人 万国良;高磊;倪康健
分类号 G01K1/08(2006.01)I 主分类号 G01K1/08(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 田申荣
主权项 一种核级仪表测温原件的焊缝保护结构,其特征在于,包括一测温元件,所述测温原件上激光焊接有一过渡管;所述测温元件上还套设有一第一保护套、一第二保护套,所述第一保护套设置在所述过渡管的一侧并与所述过渡管焊接,所述第二保护套设置在所述过渡管的另一侧并与所述过渡管焊接,所述第一保护套、所述第二保护套铆紧在所述测温元件上。
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