发明名称 |
用于进行相衬测量的检测装置和X射线断层摄影仪以及进行相衬测量的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种用于进行相衬测量的检测装置(1),其包括至少两个前后布置的转换层(2,3),其中,至少沿射线方向(8)的第一转换层(2)具有复数个交替布置的灵敏区域(9)和灵敏度较低区域(10),所述灵敏区域的吸收度较高,以便将入射射线量子转换成信号,所述灵敏度较低区域的吸收度相对较低。与基于光栅的干涉图测量相比,通过这种方式可以在保持图像质量不变的情况下,用更少的X射线剂量以更短的摄制时间产生相衬图像。此外通过快速检测信号序列,可以校正重建图像中的运动伪影和/或识别及校正扫描几何结构的变化。本发明还涉及一种相应的X射线断层摄影仪(15)和一种进行相衬测量的方法。 |
申请公布号 |
CN102395877B |
申请公布日期 |
2014.04.09 |
申请号 |
CN201080016959.4 |
申请日期 |
2010.04.13 |
申请人 |
西门子公司 |
发明人 |
蒂洛·米歇尔;彼得·巴特尔;吉塞拉·安东 |
分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/04(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
李慧 |
主权项 |
一种用于进行相衬测量的检测装置(1),包括至少两个前后布置的转换层(2,3),其中,至少沿射线方向(8)的第一转换层(2)具有复数个交替布置的灵敏区域(9)和灵敏度较低区域(10),所述灵敏区域的吸收度较高,以便将入射射线量子转换成信号,所述灵敏度较低区域的吸收度相对较低。 |
地址 |
德国慕尼黑 |