发明名称 一种荧光分析方法和装置
摘要 本发明涉及一种荧光分析方法和装置,具体地,本发明公开了一种用于定量检测样品中的待测物的渗漏检测装置,所述装置包括(1)包含检测区的多孔膜和(2)位于多孔膜下方的吸收垫。本发明还公开了一种基于所述渗漏检测装置的定量检测待测物的检测方法和一种基于所述检测方法的检测装置。
申请公布号 CN103713126A 申请公布日期 2014.04.09
申请号 CN201210378333.9 申请日期 2012.09.29
申请人 庞磊 发明人 不公告发明人
分类号 G01N33/564(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I 主分类号 G01N33/564(2006.01)I
代理机构 上海一平知识产权代理有限公司 31266 代理人 祝莲君;雷芳
主权项 一种渗漏检测装置,其特征在于,该渗漏检测装置包括:(1)包含检测区的多孔膜,其中,所述的检测区包含被荧光物质标记的固定化检测剂,并且(a1)所述固定化检测剂能与样品中的待测物结合,从而形成“检测剂-待测物”复合物;其中所述待测物还可与结合剂结合,从而当检测区接触含待测物的样品和结合剂后,在检测区形成“检测剂-待测物-结合剂”复合物;或者(b1)所述固定化检测剂能与结合剂结合,从而形成“检测剂-结合剂”复合物;其中所述结合剂还可与待测物结合,从而当检测区接触含待测物和结合剂的混合溶液后,在检测区形成“检测剂-结合剂”复合物;其中,所述结合剂被吸光物质标记,且所述吸光物质影响所述荧光物质的荧光强度;(2)位于多孔膜下方的吸收垫,所述吸收垫具有吸收能力,使得加至检测区的样品和液体透过多孔膜并被吸收垫吸收。
地址 200051 上海市长宁区安顺路158弄4号1102室