发明名称 Ohmsche Kontaktstruktur für Halbleiterbauelement
摘要 Halbleiterbauelement, umfassend: eine kanalbildende Schicht auf einem Halbleitersubstrat; eine Trennschicht auf der kanalbildenden Schicht; eine zweidimensionale Elektronengasschicht, die an einer Grenzfläche zwischen der Trennschicht und der kanalbildenden Schicht ausgebildet ist; eine Steuerelektrode in einer Beziehung mit Abstand zur Trennschicht; und eine erste vertiefte ohmsche Elektrode, die eine Vielzahl von Seitenflächen enthält, die in ohmschem Kontakt mit der zweidimensionalen Elektronengasschicht stehen und nicht parallel zu einer Kanalbreitenrichtung liegen, wobei eine Seite der ersten vertieften ohmschen Elektrode, die in ohmschem Kontakt mit der zweidimensionalen Gasschicht steht, eine wellige Form aufweist.
申请公布号 DE202014101171(U1) 申请公布日期 2014.04.07
申请号 DE201420101171U 申请日期 2014.03.14
申请人 SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC 发明人
分类号 H01L29/778 主分类号 H01L29/778
代理机构 代理人
主权项
地址