| 摘要 |
<p>L'invention concerne un système d'autotest métrologique d'un dispositif émetteur (4) d'un signal analogique apte à émettre un dit signal analogique selon un mode impulsionnel ou un mode continu, selon un gabarit donné comportant des informations de modulation temporelle, de puissance et de fréquence caractérisant ledit mode d'émission. Le système comporte des moyens d'analyse métrologique comportant : - des moyens (12, 14) de comparaison du signal émis par ledit dispositif émetteur aux informations de modulation temporelle et de puissance au rythme des impulsions définies par les informations de modulation temporelle dudit gabarit, lesdits moyens de comparaison étant aptes, lors d'une émission en mode continu, à détecter une différence par rapport aux informations dudit gabarit dès son apparition, et - des moyens (22) de mémorisation temporelle d'informations d'anomalie en cas de détection de différence par les moyens de comparaison.</p> |
