发明名称 一种交替供源制备的氮化物单晶薄膜及方法
摘要 本发明是一种利用交替供源制备的高质量氮化物晶薄膜,其结构是在单晶衬底上是氮化铝AlN缓冲层;在氮化铝AlN缓冲层上是氮化物单晶薄膜。其制备方法,包括如下工艺步骤:a)单晶衬底放入反应室,高温烘烤;b)在单晶衬底上制备Al浸润层;c)在浸润层上制备氮化铝AlN缓冲层;d)在氮化铝AlN缓冲层上制备氮化物单晶薄膜;e)降至室温,取出。优点:本方法是在交替供源方法制备高晶体质量的氮化铝缓冲层的基础上,结合In气氛保护和Al浸润层,可进一步改善氮化物单晶薄膜的晶体和表面质量,并降低薄膜应力;具有结构简单、工艺可控;表面形貌好;低成本等特点。
申请公布号 CN103695999A 申请公布日期 2014.04.02
申请号 CN201310629287.X 申请日期 2013.12.02
申请人 中国电子科技集团公司第五十五研究所 发明人 李忠辉;彭大青;张东国
分类号 C30B25/22(2006.01)I;C30B29/38(2006.01)I;C30B29/40(2006.01)I 主分类号 C30B25/22(2006.01)I
代理机构 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 代理人 沈根水
主权项 一种利用交替供源制备的高质量氮化物晶薄膜,其特征是在单晶衬底上是氮化铝AlN缓冲层;在氮化铝AlN缓冲层上是氮化物单晶薄膜。
地址 210016 江苏省南京市中山东路524号
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