双温度开关寿命试验机

摘要

本发明公开了一种能够模拟开关的面板的上、下两部份处于两个温度环境时的情况并进行测试的双温度开关寿命试验机，该机结构简单、安全可靠，它包括控制系统、支架（12）、上下往复机构（13），位于上下往复机构（13）的下方设有保温箱，该保温箱包括烘箱（1）、箱体（3）、箱盖（4），箱盖（4）上设有至少一个通孔（5），每个通孔（5）对应一个上下往复机构（13）的测试杆（14）并位于该测试杆（14）下方，所述通孔（5）用于安装被测试开关（6）以使被测试开关（6）的面板的上部（6.1）处于室内环境中，而面板的下部（6.2）处于箱体（3）内的环境中，箱体（3）设有温度传感器（7），该温度传感器（7）与控制系统电连接。

主权项

一种双温度开关寿命试验机，它包括控制系统、支架（12）、支架（12）上设上下往复机构（13），控制系统与上下往复机构（13）电连接以控制上下往复机构（13）的动作，其特征在于，位于上下往复机构（13）的下方设有保温箱，该保温箱包括由控制系统控制的烘箱（1）、局部或者全部置于烘箱（1）的烘腔（2）中的箱体（3）、盖住箱体（3）的箱盖（4），箱盖（4）上设有至少一个通孔（5），每个通孔（5）对应一个上下往复机构（13）的测试杆（14）并位于该测试杆（14）下方，所述通孔（5）用于安装被测试开关（6）以使被测试开关（6）的面板的上部（6.1）处于室内环境中，而面板的下部（6.2）处于箱体（3）内的环境中，箱体（3）设有温度传感器（7），该温度传感器（7）与控制系统电连接。