发明名称 |
一种提高集成电路电容密度的工艺 |
摘要 |
一种MIM结构电容的子模块,该电容由若干子模块组成,该子模块包括有A基槽、A极槽、介电质材料层、B基槽、B极槽,其中在介质材料层中,存在一个A基槽和B基槽,A基槽和B基槽相互平行,A基槽上依次设置若干与A基槽垂直的A极槽,B基槽上依次设置若干与B基槽垂直的B极槽,A极槽与B极槽在物理空间内相互平行,A极槽与B极槽依次相邻设置,所有的A基槽和A基槽上的A极槽与所有的B基槽和B基槽上的B极槽相互隔离,被介电质材料隔离,一种MIM结构电容结构,所述MIM结构电容结构由前述的一种MIM结构电容的子模块构成,所述MIM结构电容结构由4个MIM结构电容的子模块依次连接构成。 |
申请公布号 |
CN102437176B |
申请公布日期 |
2014.04.02 |
申请号 |
CN201110235243.X |
申请日期 |
2011.08.17 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
郑春生;张文广;徐强;陈玉文 |
分类号 |
H01L29/41(2006.01)I;H01L29/92(2006.01)I;H01L27/08(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/41(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
一种制造MIM结构电容结构的工艺,其具有以下步骤:a:在一种基片上沉积一层介电质层;b:在介电质层上进行图像化处理,过程为首先在所述介电质层设置一个封闭的长方形沟槽,在此沟槽平面内形成2条相互垂直平分十字型的沟槽,将介电质层平分为4个面积大致相等、图形大致相同的非封闭区域,所述2条相互垂直平分的沟槽与封闭的长方形沟槽不相通,其次,在十字型沟槽与封闭的长方形沟槽形成的非封闭区域内,以十字沟槽端点为起点,垂直于十字沟槽,形成2条以上的相互平行的沟槽,然后,形成相互平行且垂直于封闭的沟槽的2条以上沟槽,端点在封闭的沟槽上,端点在十字沟槽上的沟槽与端点在封闭沟槽上的沟槽相互平行,依次相邻,不相互接触;c:在介电质层上和介电质层中形成的沟槽中沉积一层金属极板层;d:进行化学机械研磨,将介电质层上的金属层研磨掉。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |