发明名称 一种光学测量设备
摘要 本实用新型涉及一种测量待测件断差值技术领域,特别涉及一种光学测量设备;包括机架,机架中设有工控系统,其上端设有工作台,工作台上设有固定装置、影像装置、激光测量装置以及第一驱动装置,影像装置、激光测量装置以及第一驱动装置与工控系统电信号连接;影像装置检测待测件并确定待测件的位置,将待测件的位置信息发送给工控系统;根据待测件的位置信息,工控系统控制激光测量装置对待测件测量,影像装置和激光测量装置的移动通过第一驱动装置完成,激光测量装置将对待测件的信息发送给工控系统;根据待测件的测量信息,工控系统对其分析,并得出待测件的断差值,特别是待测件圆弧面的断差值,从而光学测量设备完成对待测件的自动化测量。
申请公布号 CN203518947U 申请公布日期 2014.04.02
申请号 CN201320642304.9 申请日期 2013.10.17
申请人 深圳市大族激光科技股份有限公司 发明人 吴顺柏;王红波;刘朋飞;辛亚康;仝敬烁;尹建刚;高云峰
分类号 G01B11/02(2006.01)I;G01B11/14(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人 张全文
主权项 一种光学测量设备,包括机架,其特征在于,所述机架中设有工控系统,其上端设有工作台,所述工作台上设有:工件固定装置,用于固定待测件;影像装置,用于检测所述待测件在所述工作台上位置并将该位置信息反馈给所述工控系统;激光测量装置,用于测量所述待测件信息并将该测量信息反馈给所述工控系统;第一驱动装置,用于驱使所述影像装置以及所述激光测量装置在所述工作台上移动;所述影像装置、所述激光测量装置以及所述第一驱动装置与所述工控系统电信号连接。
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