| 发明名称 | 评估电磁门装置的电磁场强度 | ||
| 摘要 | 提供了一种用于评估电磁门装置(120)的电磁场强度/场几何特征的设备(110)，该设备(110)包括：测量单元(112)，适于接收来自电磁门装置(120)的测量信号，并确定所述测量信号的场强度值；通信单元(114)，适于接收来自电磁门装置(120)的命令数据，并适于向电磁门装置(120)发送响应数据。可选地，该设备(110)包括评估单元(116，118)，所述评估单元适于根据从测量单元(112)接收的所述场强度值，评估电磁门装置(120)的电磁场几何特征。 | ||
| 申请公布号 | CN101911093B | 申请公布日期 | 2014.04.02 |
| 申请号 | CN200980101823.0 | 申请日期 | 2009.01.08 |
| 申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | 杰拉尔德·维德涅格;迈克尔·布克曼;龙尼·朔马克 |
| 分类号 | G06K7/00(2006.01)I;G01R29/08(2006.01)I | 主分类号 | G06K7/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 倪斌 |
| 主权项 | 一种用于确定电磁门装置（120）的场强度的设备（110），该设备（110）包括：测量单元（112），适于接收来自电磁门装置（120）的测量信号，并确定所述测量信号的场强度值；通信单元（114），适于接收来自电磁门装置（120）的命令数据，并适于向电磁门装置（120）发送响应数据；以及评估单元（116，118），所述评估单元适于根据所述场强度值，评估电磁门装置（120）的电磁场几何特征。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||