| 发明名称 | 恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法和系统。所述方法包括：设置待测恒温晶体振荡器的M个温度测试点，其中，M为自然数；获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点；将与所述M个频率测量值中的极值点对应的温度测试点作为所述待测恒温晶体振荡器的拐点温度。本发明解决了因为人为参与恒温晶体振荡器拐点温度测量而带来测试的参数点设置不够科学、人为选择的拐点不够精确，拐点测试值不准或者人为选择误差和生产效率低下等问题。 | ||
| 申请公布号 | CN103698599A | 申请公布日期 | 2014.04.02 |
| 申请号 | CN201310739287.5 | 申请日期 | 2013.12.27 |
| 申请人 | 广东大普通信技术有限公司 | 发明人 | 李坤然;张立林;林惠娴;王春明 |
| 分类号 | G01R23/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R23/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人 | 胡彬 |
| 主权项 | 一种恒温晶体振荡器拐点温度自动测量方法，其特征在于，包括：设置待测恒温晶体振荡器的M个温度测试点，其中，M为自然数；获取与所述M个温度测试点对应的待测恒温晶体振荡器的M个频率测量值中的极值点；将与所述M个频率测量值中的极值点对应的温度测试点作为所述待测恒温晶体振荡器的拐点温度。 | ||
| 地址 | 523808 广东省东莞市松山湖科技产业园区北部工业城中小科技企业创业园13-16栋 | ||