界面检测

摘要

本发明涉及一种用于借助于雷达料位计系统来确定容器中的材料界面的料位的方法，所述雷达料位计系统包括收发器以及用于将发射电磁信号导向材料界面的探针。探针包括位于界面上方的距参考位置的已知物理距离处的第一组参考过渡阻抗和位于界面下方的距参考位置的已知物理距离处的第二组参考过渡阻抗。所述方法包括：基于由参考过渡阻抗反射的信号来确定距第一组参考过渡阻抗和第二组参考过渡阻抗的电气距离；确定将第一组电气距离值与物理距离相联系的第一近似函数和将第二组电气距离值与物理距离相联系的第二近似函数；以及基于第一近似函数和第二近似函数来确定材料界面的料位。

主权项

一种用于借助于雷达料位计系统来确定容器中的材料界面的料位的方法，所述雷达料位计系统包括：收发器，所述收发器用于生成、发射以及接收电磁信号；以及探针，所述探针连接到所述收发器并被布置成将来自所述收发器的发射电磁信号导向所述材料界面，所述探针包括第一多个参考过渡阻抗和第二多个参考过渡阻抗，所述第一多个参考过渡阻抗中的每个参考过渡阻抗位于所述材料界面上方距参考位置各个物理距离处，所述第二多个参考过渡阻抗中的每个参考过渡阻抗位于所述材料界面下方距所述参考位置各个物理距离处；所述方法包括以下步骤：针对所述第一多个参考过渡阻抗中的每个参考过渡阻抗，基于所接收到的由所述参考过渡阻抗反射的电磁信号来确定表示沿着所述探针从所述参考位置到所述参考过渡阻抗的电气距离的值，从而产生第一组电气距离值；针对所述第二多个参考过渡阻抗中的每个参考过渡阻抗，基于所接收到的由所述参考过渡阻抗反射的电磁信号来确定表示沿着所述探针从所述参考位置到所述参考过渡阻抗的电气距离的值，从而产生第二组电气距离值；针对所述第一多个参考过渡阻抗，确定将所述第一组电气距离值与物理距离相联系的第一近似函数；针对所述第二多个参考过渡阻抗，确定将所述第二组电气距离值与物理距离相联系的第二近似函数；以及基于所述第一近似函数和所述第二近似函数来确定所述材料界面的料位。