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发明名称 运用于高速输出入埠上的内建自测试电路
摘要
申请公布号 TWI432757 申请公布日期 2014.04.01
申请号 TW101103305 申请日期 2012.02.01
申请人 晨星半导体股份有限公司 发明人 陈宥霖;刘先凤;陈忠敬
分类号 G01R31/3181 主分类号 G01R31/3181
代理机构 代理人 祁明辉 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2;林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2;涂绮玲 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2
主权项
地址 新竹县竹北市台元街26号4楼之1 TW 4F-1, NO. 26, TAI-YUAN ST., CHUPEI, HSINCHU HSIEN, TAIWAN 302, R. O. C.
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