发明名称 |
包括浮桥的用于电容式测量的集成电路 |
摘要 |
本发明涉及一种电容式测量设备,其包括:(i)第一电子系统,被电参考至保护电位,并且能够连接到电容性电极,(ii)第二电子系统,被电参考至接地电位,以及(iii)激励装置,分别连接到所述保护和接地电位,从而在这些电位之间施加AC电压差。所述设备还包括以接地为参考的集成电路,所述集成电路包括:在其中实现了所述第一电子系统的第一安装区域,以及在其中实现了所述第二电子系统的第二安装区域。本发明还涉及使用该设备的系统以及该设备的用途。 |
申请公布号 |
CN103688140A |
申请公布日期 |
2014.03.26 |
申请号 |
CN201280029578.9 |
申请日期 |
2012.06.08 |
申请人 |
纳米技术方案公司 |
发明人 |
克里斯多夫·布隆丹;克丽汀·尼尔;迪迪埃·罗齐埃 |
分类号 |
G01D5/24(2006.01)I;G01R27/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01D5/24(2006.01)I |
代理机构 |
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 |
代理人 |
王春伟;刘继富 |
主权项 |
一种电容式测量设备,包括:‑第一电子系统(1),被电参考至保护电位(4),并且能够连接到电容性电极(11),‑第二电子系统(2),被电参考至接地电位(5),并通过连接装置(6)而连接到所述第一电子系统(1),以及‑激励装置(3、7),分别连接到所述保护(4)和接地(5)电位,从而在这些电位(4、5)之间施加AC电压差,其特征在于其此外包括以接地为参考的集成电路(20),所述集成电路(20)包括:‑第一安装区域(38),以保护电位(4)为参考,并且在其中实现了所述第一电子系统(1),以及‑第二安装区域(39),以接地电位(5)为参考,并且在其中实现了所述第二电子系统(2)。 |
地址 |
法国尼姆 |