检测装置

摘要

本发明提供一种检测装置，用于检测对半导体装置中的内部信号的攻击。该检测装置包括第一输入端，第二输入端，以及比较单元。第一输入端适用于接收第一信号，第一信号表示在半导体装置的驱动器的第一级的信号，驱动器能够将信号内部驱动到半导体装置。第二输入端适用于接收第二信号，第二信号表示在半导体装置的驱动器的第二级的信号。比较单元适用于比较第一信号和第二信号，并确定第一信号和第二信号相等的时间段，其中，如果所确定的时间段超过预定阈值，则所确定的时间段表示有潜在的攻击。本发明还涉及一种驱动单元、半导体装置以及检测方法。

主权项

一种检测装置，用于检测对半导体装置中的内部信号的攻击，其特征在于，该检测装置包括：第一输入端，第二输入端，以及比较单元，其中，第一输入端适用于接收第一信号，第一信号表示在半导体装置的驱动器的第一级的信号，驱动器能够将信号内部驱动到半导体装置，第二输入端适用于接收第二信号，第二信号表示在半导体装置的驱动器的第二级的信号，以及比较单元适用于比较第一信号和第二信号，并确定第一信号和第二信号相等的时间段，如果所确定的时间段超过预定阈值，则所确定的时间段表示有潜在的攻击。