面板测试用玻璃碰撞型探头块结构

摘要

本发明涉及面板测试用玻璃碰撞型探头块结构,其中，头块设置于面板测试用探头单元，接触于作为检查对象体的各种面板，从而提供用于测试的电子信号，其包括：缓冲部件，其设置于构成上述头块的主体下方前端；Ni碰撞型微机电系统玻璃块(MEMS Glass block)，其与上述缓冲部件相接，并且形成有与作为检查对象体的上述面板接触的导电图（Conductive pattern）；连接部，其一侧与上述Ni碰撞型微机电系统玻璃块的导电图连接，且另一侧与搭载有用于面板检查的电路功能的驱动IC连接；软性印刷电路板（FPCB），其与上述驱动IC连接，并且向上述Ni碰撞型微机电系统玻璃块传送测试信号；固定板，其用于将上述结构固定在上述头块的下方。如上所述构成的本发明改善了电子连接结构，以便缩短Ni碰撞型微机电系统玻璃块长度，从而短小的Ni碰撞型微机电系统玻璃块可保持低角度，因此检查时可确保大面积接触于面板，进而将面板损伤最小化。

主权项

一种面板测试用探头块，其设置于面板测试用探头单元上，接触于作为检查对象体的各种面板，从而提供用于测试的电子信号，其包括：缓冲部件，其设置于构成上述头块的主体下方前端;Ni碰撞型微机电系统玻璃块(MEMS Glass block)，其与上述缓冲部件相接,并且形成有与作为检查对象体的上述面板接触的导电图；连接部，其一侧与上述Ni碰撞型微机电系统玻璃块的导电图连接，另一侧与搭载有用于面板检查的电子电路功能的驱动IC连接;软性印刷电路板（FPCB），其与上述驱动IC连接，并向上述Ni碰撞型微机电系统玻璃块传送测试信号;以及固定板，其用于将上述结构固定在上述头块的下方。