发明名称 一种二阶非线性光学测试系统
摘要 一种二阶非线性光学测试系统,涉及光学测试系统的研制。该测试系统的最大特点是该系统在激光激发样品产生的倍频光及其它光效应产生的非倍频光后入射至谱仪,通过谱仪把倍频光和非倍频光分开,在谱仪后采用阵列探测器进行探测,从而实现对倍频光和非倍频光的识别,进而实现对材料的倍频效应进行定性和定量测试,具有对材料的倍频光高分辨率、高灵敏度的优点,有利于弱信号二阶非线性光学效应的测试,同时它适合于可见近红外以及中远红外二阶非线性光学效应的测试。
申请公布号 CN101295117B 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN200710008880.7 申请日期 2007.04.26
申请人 中国科学院福建物质结构研究所 发明人 邹建平;张戈;黄呈辉;郭国聪
分类号 G02F1/35(2006.01)I 主分类号 G02F1/35(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种二阶非线性光学测试系统,本系统包括OPO光源(1),样品室(2),阵列探测器(4),其特征在于:样品台可以精确平移和转动,该系统在样品室(2)与阵列探测器(4)之间放置谱仪(3),将激光激发样品产生的倍频光及其它光效应产生的非倍频光分开,在谱仪(3)后采用阵列探测器(4)探测倍频光,当激光激发样品产生的光信号全部经过谱仪分光后,选定激发激光波长的一半位置作为阵列探测器(4)的探测中心,该系统设置多通道数字延迟脉冲发生器(5),用于协调控制OPO光源、阵列探测器和谱仪。
地址 350002 福建省福州市杨桥西路155号