发明名称 |
大平片光谱测试仪 |
摘要 |
一种大平片光谱测试仪,包括外壳(1)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接口(13),其特征在于:所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝,光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。本发明通过对传统大平片光谱测试仪中光路传输方向的改变,缩小测试光斑,实现了大尺寸待测样品的小通光孔测试,使待测样品可以直接放在工作台上测试,保证了测试精度和测试准确性,操作简便,又可以不破坏测试样品,节约了成本。 |
申请公布号 |
CN102621087B |
申请公布日期 |
2014.03.26 |
申请号 |
CN201210081417.6 |
申请日期 |
2012.03.23 |
申请人 |
上海欣茂仪器有限公司 |
发明人 |
冯迈东 |
分类号 |
G01N21/31(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/31(2006.01)I |
代理机构 |
上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 |
代理人 |
吴泽群 |
主权项 |
一种大平片光谱测试仪,包括外壳(1)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接口(13),所述光源灯室(3)装在底板(2)内,底板(2)上光源灯室(3)下方装有单色器(4),出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)分别安装在单色器(4)底座上互成90°垂直的相邻二侧面上,样品室(7)装在底板(2)的右侧,检测装置(8)和测试平台(9)都设置在样品室(7)内,外壳(1)罩在底板(2)上,外壳(1)的正面上还设有仪器面板(12),仪器面板(12)上设有显示器(11)和按键(10),外壳(1)后侧下部设有通讯接口(13),其特征在于:所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝,光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。 |
地址 |
201103 上海市闵行区虹中路645号2号楼4楼 |