发明名称 大平片光谱测试仪
摘要 一种大平片光谱测试仪,包括外壳(1)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接口(13),其特征在于:所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝,光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。本发明通过对传统大平片光谱测试仪中光路传输方向的改变,缩小测试光斑,实现了大尺寸待测样品的小通光孔测试,使待测样品可以直接放在工作台上测试,保证了测试精度和测试准确性,操作简便,又可以不破坏测试样品,节约了成本。
申请公布号 CN102621087B 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN201210081417.6 申请日期 2012.03.23
申请人 上海欣茂仪器有限公司 发明人 冯迈东
分类号 G01N21/31(2006.01)I 主分类号 G01N21/31(2006.01)I
代理机构 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人 吴泽群
主权项 一种大平片光谱测试仪,包括外壳(1)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接口(13),所述光源灯室(3)装在底板(2)内,底板(2)上光源灯室(3)下方装有单色器(4),出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)分别安装在单色器(4)底座上互成90°垂直的相邻二侧面上,样品室(7)装在底板(2)的右侧,检测装置(8)和测试平台(9)都设置在样品室(7)内,外壳(1)罩在底板(2)上,外壳(1)的正面上还设有仪器面板(12),仪器面板(12)上设有显示器(11)和按键(10),外壳(1)后侧下部设有通讯接口(13),其特征在于:所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝,光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。
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