发明名称 半导体开关的有源箝位
摘要 公开了半导体开关的有源箝位。本发明公开了一种包括第一半导体开关和控制该开关的驱动单元的设备以及用于该设备的方法。该设备和方法检测半导体开关上的过电压,以及根据该过电压来调节驱动单元的供电电压输入端处的电压。
申请公布号 CN103684369A 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN201310397555.X 申请日期 2013.09.04
申请人 ABB公司 发明人 米科·萨里南
分类号 H03K17/08(2006.01)I 主分类号 H03K17/08(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 朱胜;穆云丽
主权项 一种设备,包括:第一半导体开关(10;20),所述第一半导体开关(10;20)包括第一端子(c)、第二端子(e)和第三端子(g),其中,所述第一开关(10;20)适于根据提供给所述第三端子(g)的控制信号(vg)来控制所述第一端子(c)与所述第二端子(e)之间的电流,其中,所述控制信号(vg)具有用于控制所述第一开关(10;20)至导通状态的第一电平和用于控制所述第一开关(10;20)至非导通状态的第二电平,驱动单元(11;21),所述驱动单元(11;21)包括向所述第一开关(10;20)的所述第三端子(g)提供所述控制信号(vg)的输出端、用于提供所述控制信号(vg)的工作范围的上限电平的第一供电电压输入端(vcc)、以及用于提供所述控制信号(vg)的所述工作范围的下限电平的第二供电电压输入端(vee),用于向所述第一供电电压输入端(vcc)提供第一电压以及向所述第二供电电压输入端(vee)提供第二电压的装置(12;22,13;23),用于确定所述第一开关(10;20)的所述第一端子(c)与所述第二端子(e)之间的过电压的装置(14;24;34),以及用于根据所述第一开关(10;20)的所述第一端子(c)与所述第二端子(e)之间的所述过电压来调节所述第二供电电压输入端(vee)处的电压的装置(15;25;35)。
地址 芬兰赫尔辛基