发明名称 |
双能X射线阵列探测器 |
摘要 |
本发明提供了一种双能X射线阵列探测器,其在X射线入射方向分别包含第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列,上述各功能器件集成为一个部件。利用这种双能X射线阵列探测器能够测量穿透物体的X射线能谱中低能部分和高能部分的相对差别,进而提供材料识别的依据。 |
申请公布号 |
CN101937094B |
申请公布日期 |
2014.03.26 |
申请号 |
CN200910088623.8 |
申请日期 |
2009.06.30 |
申请人 |
同方威视技术股份有限公司 |
发明人 |
赵书清;李元景;代主得;张清军 |
分类号 |
G01T1/20(2006.01)I;G01T1/202(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01T1/20(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
王岳;李家麟 |
主权项 |
一种双能X射线阵列探测器,其特征在于,该双能X射线阵列探测器在沿X射线的入射方向上依序包括第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列,所述第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列均集成在所述PCB板上;其中,所述各阵列间的相应元器件互相对准,并且所述各阵列中所包含的元器件数量均相同,所述双能X射线阵列探测器在所述第一闪烁体阵列之前还包括准直器阵列。 |
地址 |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |