一种基于FREAK的高速高密度封装元器件快速定位方法

摘要

本发明公开了一种基于FREAK的高速高密度封装元器件快速定位方法，该方法是：采用SURF配准方法中的Hessian矩阵检测关键点的位置所在；利用关键点的邻域信息，确定特征点的主方向；根据视网膜模型的分布，训练学采样点对比对，根据对比对构建FREAK特征向量；根据FREAK特征向量，采用海明距离作为特征向量的相似性度量，进行最近邻匹配；通过匹配的特征点对构建仿射变换方程，通过最小二乘法求解上述变换方程，计算得到空间变换模型参数，即：x方向的平移参数m、y方向的平移参数n和旋转角度β。与现有技术相比，本发明大大降低了特征描述与匹配的计算复杂度和存储代价，实现了高速高精度亚像素级定位。

主权项

一种基于FREAK的高速高密度封装元器件快速定位方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）关键点定位：输入待配准图像和模板图像，采用Hessian矩阵检测关键点的位置所在；（2）特征描述：利用关键点的邻域信息，确定特征点的主方向；根据视网膜模型的分布，训练学习采样点对比对，根据对比对构建FREAK特征向量；（3）特征匹配：根据FREAK特征向量，采用海明距离作为特征向量的相似性度量，进行最近邻匹配；通过匹配的特征点对构建仿射变换方程，通过最小二乘法求解上述变换方程，计算得到空间变换模型参数，即：x方向的平移参数m、y方向的平移参数n和旋转角度β。