发明名称 一种在集成电路中实现IO反向漏电检测的方法及电路
摘要 在集成电路的上电过程中,经常会出现外部信号先于电源上电的情况。当该情况发生时,外部信号会通过I/O电路的ESD PMOS及驱动PMOS管向集成电路电源端口反向漏电,代替外部电源为集成电路供电。这种反向漏电容易影响集成电路正常工作。本发明提供了一种对I/O反向漏电进行检测的方法,通过对I/O端口电压和电源端口电压的比较,可以判断集成电路供电是源于I/O端口还是电源端口。当检测到I/O端口供电、反向漏电发生时,检测电路将复位集成电路,从而避免集成电路在非正常状态下工作。
申请公布号 CN103675577A 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN201210351429.6 申请日期 2012.09.18
申请人 北京中电华大电子设计有限责任公司 发明人 马哲;宁作良;张诗娟
分类号 G01R31/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种在集成电路中检测反向漏电的方法,其特征在于通过比较I/O端口电压与电源端口电压来判断集成电路是否产生反向漏电现象。
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