发明名称 |
应用于触控装置的测试系统及测试方法 |
摘要 |
本发明所提供的触控装置测试系统包含触碰模拟模块、控制模块及判断模块。触碰模拟模块包含多个导电元件,与一触控装置的多个触控感应区域一一对应。控制模块用以选择性地将一测试信号提供至该多个导电元件中的一个或多个。该判断模块用以判断该触控装置是否正确回应该控制模块透过该触碰模拟模块施于该多个触控感应区域的一测试。 |
申请公布号 |
CN103675489A |
申请公布日期 |
2014.03.26 |
申请号 |
CN201210319129.X |
申请日期 |
2012.08.31 |
申请人 |
晨星软件研发(深圳)有限公司;晨星半导体股份有限公司 |
发明人 |
陈建铨;何闿廷;黄有健 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陈亮 |
主权项 |
一种触控装置测试系统,用以测试一触控装置,该测试系统包含:一触碰模拟模块,包含多个导电元件,分别对应于该触控装置的多个触控感应区域;一控制模块,耦接至该多个导电元件,用以选择性地将一测试信号提供至该多个导电元件中的一个或多个;以及一判断模块,耦接至该触控装置,用以判断该触控装置是否正确回应该控制模块透过该触碰模拟模块施于该多个触控感应区域的一测试。 |
地址 |
518057 广东省深圳市深圳市南山区高新南一道中国科技开发院中科研发园三号楼塔楼4-5号 |