| 发明名称 | 彩膜基板的修补方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种彩膜基板的修补方法，该彩膜基板的修补方法包括：捕获彩膜基板的图像；对该图像进行灰度化处理；根据该图像的灰度值在该图像中提取缺陷区域；检测该缺陷区域的边缘；根据该缺陷区域的边缘对该缺陷区域进行分块处理，得到该缺陷区域的子缺陷区域；在该子缺陷区域内选取研磨点进行研磨。本发明实通过将彩膜基板中的缺陷分为若干部分，然后分别对该若干部分进行测高研磨，从而解决了尺寸较大的缺陷点会出现过研磨的问题。 | ||
| 申请公布号 | CN103676242A | 申请公布日期 | 2014.03.26 |
| 申请号 | CN201310721868.6 | 申请日期 | 2013.12.23 |
| 申请人 | 合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 | 发明人 | 李启明;张明文;吴斌;李晶晶;李朝阳;崔秀娟;李娟 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 李迪 |
| 主权项 | 一种彩膜基板的修补方法，其特征在于，包括：捕获彩膜基板的图像；对所述图像进行灰度化处理；根据所述图像的灰度值在所述图像中提取缺陷区域；检测所述缺陷区域的边缘；根据所述缺陷区域的边缘对所述缺陷区域进行分块处理，得到所述缺陷区域的子缺陷区域；在所述子缺陷区域内选取研磨点进行研磨。 | ||
| 地址 | 230012 安徽省合肥市新站区铜陵北路2177号 | ||