芯片测试方法及装置

摘要

本发明实施例公开了一种芯片测试方法及装置，涉及终端测试领域，能够在一个测试环境下实现各种芯片和模块的测试，达到统一管理各种芯片测试的目的。本发明的方法包括：检测是否有外接设备接入boot模块：若检测到有外接设备接入所述boot模块，则检测是否有数据输入所述boot模块；若检测到有数据输入所述boot模块，则读取输入的数据，并判断所述输入的数据是否为芯片测试模式启动命令；若所述输入的数据为芯片测试模式启动命令，则进入芯片测试模式界面，接收用户输入的芯片测试命令，根据所述芯片测试命令执行相应的芯片测试，并将芯片测试结果输出。本发明实施例主要用于终端产品上的芯片测试过程中。

主权项

一种芯片测试方法，其特征在于，包括：检测是否有外接设备接入boot模块，所述外接设备为终端产品上待测试的不同芯片；若检测到有外接设备接入所述boot模块，则检测是否有数据输入所述boot模块；若检测到有数据输入所述boot模块，则读取输入的数据，并判断所述输入的数据是否为芯片测试模式启动命令；若所述输入的数据为芯片测试模式启动命令，则进入芯片测试模式界面，接收用户输入的芯片测试命令，根据所述芯片测试命令执行相应的芯片测试，并将芯片测试结果输出。