发明名称 |
高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法 |
摘要 |
高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法,属于高温材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决目前半透明材料光谱方向表观发射率测量精度低、温度上限低、测量波段窄并且存在测量死角的问题。本发明利用傅里叶红外光谱仪分别对半透明材料的高温法向透射率和高温法向发射率进行测量,继而根据辐射传输逆问题求解方法计算得到半透明材料的光谱折射率和光谱吸收系数,最终由材料的光谱折射率和光谱吸收系数计算得到半透明材料高温光谱方向表观发射率。本发明提供了一种可靠的可对半透明材料高温光谱方向表观发射率进行准确测量的测量方法,可以广泛应用于航空航天、军事、能源、化工、以及大气科学等诸多领域。 |
申请公布号 |
CN103674888A |
申请公布日期 |
2014.03.26 |
申请号 |
CN201310721986.7 |
申请日期 |
2013.12.24 |
申请人 |
哈尔滨工业大学 |
发明人 |
齐宏;牛春洋;孙双成;郑献之;阮立明;姜宝成 |
分类号 |
G01N21/3563(2014.01)I |
主分类号 |
G01N21/3563(2014.01)I |
代理机构 |
哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 |
代理人 |
杨立超 |
主权项 |
一种高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置,其特征在于:它包括数据处理系统(1)、傅立叶红外光谱分析仪(2)、真空罐(7)、以及置于真空罐(7)内的黑体光源A(6)、可旋转反光镜(4)、黑体辐射加热器(5)和黑体光源B(3);黑体辐射加热器(5)和可旋转反光镜(4)位于黑体光源A(6)和黑体光源B(3)之间,黑体辐射加热器(5)位于黑体光源A(6)和可旋转反光镜(4)之间;黑体辐射加热器(5)用于对待测半透明试件(9)进行辐射加热以保持待测半透明试件(9)两表面均为半透明边界条件,并使透过半透明试件(9)投射到黑体辐射加热器(5)上的辐射能量全部被吸收;傅立叶红外光谱分析仪(2)用于采集光谱辐射信号;数据处理系统(1)和傅立叶红外光谱分析仪(2)连接,用于处理傅立叶红外光谱分析仪(2)采集的信号。 |
地址 |
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |