发明名称 | 一种基于集成电路标准样片的校准装置及方法 | ||
摘要 | 一种基于集成电路标准样片的校准装置,包括集成电路标准样片、校准接口板及校准线缆、直流矩阵开关、射频矩阵开关;其优点是:(1)扩展了标准样片的应用范围,实现了标准样片在集成电路测试系统全通道校准中的应用;(2)采用了矩阵开关作为主架构,保证了装置的可扩展性和兼容性;(3)该装置是基于标准样片实现对集成电路测试系统的量值传递,无需配备大量的专测设备,很大程度降低了研制费用;(4)集成度高,便携性能好,运输便捷,能够很好地满足当前集成电路测试系统现场校准的需求。 | ||
申请公布号 | CN103675647A | 申请公布日期 | 2014.03.26 |
申请号 | CN201310663881.0 | 申请日期 | 2013.12.10 |
申请人 | 中国船舶重工集团公司第七〇九研究所 | 发明人 | 胡勇;孙崇钧;王庆 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 武汉金堂专利事务所 42212 | 代理人 | 胡清堂 |
主权项 | 一种基于集成电路标准样片的校准装置,其特征在于:本发明一种基于集成电路标准样片的校准装置,包括集成电路标准样片、校准接口板及校准线缆、直流矩阵开关、射频矩阵开关;其中,标准样片通过测试夹具置于校准接口板上;直流矩阵开关通过校准线缆一端连接标准样片测试管脚接口,另一端连接直流参量测量接口,用于直流参量测量时标准样片与测试通道间的切换;射频矩阵开关通过校准线缆连接交流参量测量接口,用于交流参量测量时标准样片与测试通道间的切换;通过改变直流矩阵开关和射频矩阵开关的拓扑结构,使矩阵开关连接至标准样片待测管脚的行,依次切换至矩阵开关的所有列,从而实现标准样片待测管脚与测试系统的全通道连接。 | ||
地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路718号 |