发明名称 一种基于集成电路标准样片的校准装置及方法
摘要 一种基于集成电路标准样片的校准装置,包括集成电路标准样片、校准接口板及校准线缆、直流矩阵开关、射频矩阵开关;其优点是:(1)扩展了标准样片的应用范围,实现了标准样片在集成电路测试系统全通道校准中的应用;(2)采用了矩阵开关作为主架构,保证了装置的可扩展性和兼容性;(3)该装置是基于标准样片实现对集成电路测试系统的量值传递,无需配备大量的专测设备,很大程度降低了研制费用;(4)集成度高,便携性能好,运输便捷,能够很好地满足当前集成电路测试系统现场校准的需求。
申请公布号 CN103675647A 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN201310663881.0 申请日期 2013.12.10
申请人 中国船舶重工集团公司第七〇九研究所 发明人 胡勇;孙崇钧;王庆
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 武汉金堂专利事务所 42212 代理人 胡清堂
主权项 一种基于集成电路标准样片的校准装置,其特征在于:本发明一种基于集成电路标准样片的校准装置,包括集成电路标准样片、校准接口板及校准线缆、直流矩阵开关、射频矩阵开关;其中,标准样片通过测试夹具置于校准接口板上;直流矩阵开关通过校准线缆一端连接标准样片测试管脚接口,另一端连接直流参量测量接口,用于直流参量测量时标准样片与测试通道间的切换;射频矩阵开关通过校准线缆连接交流参量测量接口,用于交流参量测量时标准样片与测试通道间的切换;通过改变直流矩阵开关和射频矩阵开关的拓扑结构,使矩阵开关连接至标准样片待测管脚的行,依次切换至矩阵开关的所有列,从而实现标准样片待测管脚与测试系统的全通道连接。
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