发明名称 电路板黑孔导通性测试方法
摘要 一种电路板黑孔导通性测试方法,包括以下步骤:a)按照正常工作板拼版尺寸开料,钻所要测试的孔;b)按照工艺参数,过黑孔线;c)过完黑孔后,按照2A/dm2,镀铜30分钟;d)过干膜前处理,两面压上干膜;e)一面用的比孔单边大的盘制作菲林,对位曝光,另一面整板曝光;f)按照正常蚀刻参数蚀刻;g)按照2A/dm2,镀镍或镀锡3分钟h)看盘面有没有镀上镍或锡,如果没有镀上镍或锡说明该孔不导电。所述步骤a中所钻孔的孔边距为2mm;所述步骤e中的盘比孔单边大0.5mm。所述步骤d中的干膜厚度为30微米。有益效果:本发明能够快速准确地找出不导通的黑孔,提高了电路板黑孔导通性的测试效率。
申请公布号 CN103675584A 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN201310408190.6 申请日期 2013.09.10
申请人 镇江华印电路板有限公司 发明人 李胜伦;曹立志
分类号 G01R31/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/02(2006.01)I
代理机构 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人 柏尚春
主权项 一种电路板黑孔导通性测试方法, 其特征在于,包括以下步骤:a) 按照正常工作板拼版尺寸开料,钻所要测试的孔;b) 按照工艺参数,过黑孔线;c) 过完黑孔后,按照2A/dm2,镀铜30分钟;d) 过干膜前处理,两面压上干膜;e) 一面用的比孔单边大的盘制作菲林,对位曝光,另一面整板曝光;f) 按照正常蚀刻参数蚀刻;g) 按照2A/dm2,镀镍或镀锡3分钟h) 看盘面有没有镀上镍或锡,如果没有镀上镍或锡说明该孔不导电。
地址 212005 江苏省镇江市润州工业园区南徐大道200号