发明名称 基于激光干涉纳米光刻在硅片上制备超疏水表面的方法
摘要 本发明公开了一种基于激光干涉纳米光刻在硅片上制备超疏水表面的方法,本发明包括如下步骤,(1)利用Matlab模拟四光束干涉图形,设定参数模拟出理想点阵模型。根据模拟参数来搭建激光干涉光学系统。由激光器发出的一束激光,经过分光系统分为四束光,入射角θ1=θ2=θ3=θ4=15°,相位角偏振角Ψ1=Ψ2=Ψ3=Ψ4=90°,四束光光强能量密度比为1∶1∶1∶1,四束光在硅片上干涉刻蚀出点阵结构。(2)处理刻蚀后的硅片利用超声振动去除表面粉尘污染物。(3)利用HF处理刻蚀的硅片,去除SiO2,得到接触角高达150°的微纳表面结构。
申请公布号 CN103663358A 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN201310204741.7 申请日期 2013.05.23
申请人 长春理工大学 发明人 王作斌;李文君;王大鹏;张子昂;赵乐;董莉彤;宋正勋
分类号 B81C1/00(2006.01)I;G03F7/20(2006.01)I 主分类号 B81C1/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1.基于激光干涉纳米光刻在硅片上制备超疏水表面的方法,其特征在于,包括如下步骤:1)利用Matlab模拟四光束干涉图形,设定参数模拟出理想点阵模型。根据模拟参数来搭建激光干涉光学系统。由激光器发出的一束激光,经过分光系统分为四束光,入射角θ<sub>1</sub>=θ<sub>2</sub>=θ<sub>3</sub>=θ<sub>4</sub>=15°,相位角<img file="FSA00000903081600011.GIF" wi="158" he="61" /><img file="FSA00000903081600012.GIF" wi="190" he="60" /><img file="FSA00000903081600013.GIF" wi="210" he="60" /><img file="FSA00000903081600014.GIF" wi="217" he="60" />偏振角ψ<sub>1</sub>=ψ<sub>2</sub>=ψ<sub>3</sub>=ψ<sub>4</sub>=90°,四束光光强能量密度比为1∶1∶1∶1,四束光在硅片上干涉刻蚀出点阵结构。2)处理刻蚀后的硅片去除表面粉尘污染物。3)利用氢氟酸处理刻蚀硅片,去除SiO<sub>2</sub>,得到接触角高达150°的表面结构。
地址 130022 吉林省长春市卫星路7089号