发明名称 | 一种RFID读写器老化测试辅助装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种RFID读写器老化测试辅助装置,包括MCU、继电器、串口接口一、温湿度传感器接口、液晶显示器、存储器、扩展存储器、按键、报警器、电平转换电路和串口接口二,继电器控制电源的开关,MCU通过串口接口一与老化箱内的读写器进行通信,MCU通过温湿度传感器接口与老化箱内的温湿度传感器连接,液晶显示器与MCU连接并显示测试信息,存储器和扩展存储器与MCU连接并存储测试信息,按键对MCU进行测试操作,报警器与MCU连接并在在测试完成时启动报警,电平转换电路连接在MCU与串口接口二之间进行电平转换,串口接口二实现MCU与上位机的通信。本发明结构简单、使用便捷且效率高。 | ||
申请公布号 | CN103675541A | 申请公布日期 | 2014.03.26 |
申请号 | CN201310643271.4 | 申请日期 | 2013.12.05 |
申请人 | 成都天志大行信息科技有限公司 | 发明人 | 刘海波;钟旭 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 | 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人 | 徐丰;杨保刚 |
主权项 | 一种RFID读写器老化测试辅助装置,其特征在于:包括MCU、继电器、串口接口一、温湿度传感器接口、液晶显示器、存储器、扩展存储器、按键、报警器、电平转换电路和串口接口二,所述继电器控制电源的开关,所述MCU通过串口接口一与老化箱内的读写器进行通信,所述MCU通过温湿度传感器接口与老化箱内的温湿度传感器连接,所述液晶显示器与MCU连接并显示测试信息,所述存储器和扩展存储器与MCU连接并存储测试信息,所述按键对MCU进行测试操作,所述报警器与MCU连接并在在测试完成时启动报警,所述电平转换电路连接在MCU与串口接口二之间进行电平转换,所述串口接口二实现MCU与上位机的通信。 | ||
地址 | 610041 四川省成都市高新区肖家河中街46号 |