发明名称 Ⅲ族氮化物类半导体发光元件及外延晶圆
摘要 本发明提供一种可以降低空穴从活性层的溢出而提高量子效率的Ⅲ族氮化物类半导体发光元件以及用于该Ⅲ族氮化物类半导体发光元件的外延晶圆。活性层(19)位于p型GaN类半导体区域(15)和空穴阻挡层(17)之间,因此空穴(H)从p型GaN类半导体区域(15)供给到活性层(19)。空穴阻挡层(17)的厚度(D17)小于GaN类半导体层(13)的厚度(D13)。空穴阻挡层(17)的带隙(G17)大于GaN类半导体区域(23)的带隙的最大值,因此空穴阻挡层(17)对要从活性层(19)溢出的空穴起到障壁(ΔGH)的作用。因此,空穴阻挡层(17)降低了从活性层(19)溢出并到达GaN类半导体区域(23)的空穴的量。
申请公布号 CN101626058B 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN200910140218.6 申请日期 2009.07.09
申请人 住友电气工业株式会社 发明人 盐谷阳平;京野孝史;秋田胜史;上野昌纪
分类号 H01L33/00(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 谢丽娜;关兆辉
主权项 一种III族氮化物类半导体发光元件,其特征在于,包括:基板,由氮化镓类半导体构成,具有呈现半极性的主面,n型氮化镓类半导体区域,设置在上述基板的上述主面上,具有沿着预定平面延伸的主面;p型氮化镓类半导体区域;由第一氮化镓类半导体构成的空穴阻挡层;和由氮化镓类半导体构成的活性层,该活性层设置在上述p型氮化镓类半导体区域和上述空穴阻挡层之间,上述n型氮化镓类半导体区域设置在上述基板和上述空穴阻挡层之间,上述空穴阻挡层及上述活性层配置在上述n型氮化镓类半导体区域的上述主面和上述p型氮化镓类半导体区域之间,上述n型氮化镓类半导体区域的c轴相对于上述预定平面的法线倾斜,上述空穴阻挡层的带隙大于上述n型氮化镓类半导体区域的带隙,上述空穴阻挡层的带隙大于上述活性层中的带隙的最大值,上述空穴阻挡层的厚度小于上述n型氮化镓类半导体区域的厚度,上述n型氮化镓类半导体区域的c轴和上述预定平面的法线所成的倾斜角为10度以上、80度以下。
地址 日本大阪府大阪市