| 摘要 |
<p>본 발명은 복수의 회로기판 조립체가 각각 놓이기 위한 안착부를 복수로 구비되는 본체와, 상기 각 회로기판 조립체를 지지할 수 있도록 상기 각 안착부의 하부에 설치되며 상기 회로기판 조립체가 가압됨에 따라 상부로 노출되어 상기 회로기판 조립체의 단자와 접촉하는 핀이 설치된 핀 블록과, 상기 본체에 상하 이동 가능하게 설치되는 이동 플레이트, 및 상기 이동 플레이트의 상기 핀 블록에 대응되는 위치에 각각 설치되며 상기 이동 플레이트의 하강에 따라 상기 회로기판 조립체를 가압하는 복수의 가압부재를 포함하는 회로기판 기능검사장치를 개시한다.</p> |
