发明名称 Verfahren zur Fixierung einer matrixfreien elektrophoretisch abgeschiedenen Schicht auf einem Halbleiterchip und strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement
摘要 Es wird ein Verfahren zur Fixierung einer matrixfreien elektrophoretisch abgeschiedenen Schicht auf einem Halbleiterchip (2) angeben, das die folgenden Schritte aufweist:–Bereitstellen eines Halbleiterwafers (1), wobei der Halbleiterwafer (1) ein Trägersubstrat (5) und wenigstens einen Halbleiterchip (2) aufweist, wobei der Halbleiterchip (2) eine aktive Zone zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung aufweist, und wobei an einer dem Trägersubstrat (5) abgewandten Oberfläche (4) des Halbleiterchips (2) wenigstens einen Kontaktbereich (3) ausgebildet ist,–elektrophoretisches Abscheiden eines Materials (7) auf der dem Trägersubstrat (5) abgewandten Oberfläche (4) des Halbleiterchips (2) zur Ausbildung der elektrophoretisch abgeschiedenen Schicht, wobei ein Abscheiden des Materials (7) auf dem wenigstens einen Kontaktbereich (3) verhindert wird,–Aufbringen eines anorganischen Matrixmaterials (8) auf wenigstens einen Teilbereich einer dem Trägersubstrat (5) abgewandten Oberfläche des Halbleiterwafers (1) zur Fixierung des Materials (7) auf dem Halbleiterchip (2). Ferner wird ein strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement (1) angegeben.
申请公布号 DE102012108704(A1) 申请公布日期 2014.03.20
申请号 DE201210108704 申请日期 2012.09.17
申请人 OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH 发明人 STOLL, ION;TAEGER, SEBASTIAN;GALLMEIER, HANS-CHRISTOPH;GEYER, GUDRUN;HARTAUER, STEFAN
分类号 H01L33/50;C25D13/02;H01L33/56;H01L33/62 主分类号 H01L33/50
代理机构 代理人
主权项
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