摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Phasenrausch-Messgerät zum Messen eines Phasenrauschens von elektromagnetischer Strahlung, insbesondere von Licht, mit einem Strahlungseingang (12) zum Einkoppeln eines Primärstrahls (14) kohärenter elektromagnetischer Strahlung, wobei der Primärstrahl (14) ein zu messendes Primärstrahl-Phasenrauschen aufweist, einer Sekundärstrahl-Erzeugungsvorrichtung (16) zum Erzeugen eines Sekundärstrahls (18) aus dem Primärstrahl (14), wobei der Sekundärstrahl (18) ein Sekundärstrahl-Phasenrauschen aufweist, das auf eindeutige Weise von dem Primärstrahl-Phasenrauschen abhängt, einer Sekundärstrahl-Stabilisierungsvorrichtung (27), die eine passive Frequenzreferenz-Verkörperung (26), die eine Frequenzreferenz verkörpert, und eine Regelvorrichtung zum Regeln einer Sekundärstrahl-Frequenz auf die Frequenzreferenz aufweist, zum Erzeugen eines stabilisierten Sekundärstrahls (18') und einer Phasendifferenz-Messvorrichtung (36), die eingerichtet ist zum Messen einer Phasendifferenz zwischen Primärstrahl (14) und stabilisiertem Sekundärstrahl (18'), so dass das Primärstrahl-Phasenrauschen aus der Phasendifferenz bestimmbar ist. |
申请人 |
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND, VERTRETEN DURCH DAS BUNDESMINISTERIUM FUER WIRTSCHAFT UND TECHNOLOGIE, DIESES VERTRETEN DURCH DEN PRAESIDENTEN DER PHYSIKALISCH-TECHNISCHEN BUNDESANSTALT |
发明人 |
LEGERO, THOMAS;GREBING, CHRISTIAN |