发明名称 |
一种AlGaN基双色日盲紫外探测器及制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种AlGaN基双色日盲紫外探测器及制作方法。该探测器包括:衬底;缓冲层;n-i-p-i-n单元,其包括缓冲层上依次生长的下n型掺杂层、下i型有源层、p型掺杂层、上i型有源层和上n型掺杂层;上台面,其是通过刻蚀上n型掺杂层、上i型有源层、p型掺杂层两侧形成的台面;下台面,其是通过刻蚀上台面下方两侧的p型掺杂层形成;n型欧姆接触金属层,其生长在上n型掺杂层表面,以及下台面一侧的下n型掺杂层上表面;p型欧姆接触金属层,其生长在上台面一侧的p型掺杂层上表面;加厚金属层,其生长在n型欧姆接触金属层和p型欧姆接触金属层上表面,其尺寸大于其下方的欧姆接触金属层的尺寸;二氧化硅层。 |
申请公布号 |
CN103646986A |
申请公布日期 |
2014.03.19 |
申请号 |
CN201310729555.5 |
申请日期 |
2013.12.26 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
杨敏;种明;赵德刚;王晓勇;苏艳梅;孙捷;孙秀艳 |
分类号 |
H01L31/105(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I |
主分类号 |
H01L31/105(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种AlGaN基双色日盲紫外探测器,其包括: 衬底; 缓冲层,其生长在衬底上; n‑i‑p‑i‑n单元,其包括缓冲层上依次生长的下n型掺杂层、下i型有源层、p型掺杂层、上i型有源层和上n型掺杂层; 上台面,其是通过刻蚀上n型掺杂层、上i型有源层、p型掺杂层两侧形成的台面,其刻蚀深度到达p型掺杂层内; 下台面,其是通过刻蚀上台面下方两侧的p型掺杂层形成的,其刻蚀深度到达下n型掺杂层内; n型欧姆接触金属层,其生长在上n型掺杂层表面,以及下台面一侧的下n型掺杂层上表面; p型欧姆接触金属层,其生长在上台面一侧的p型掺杂层上表面; 加厚金属层,其生长在n型欧姆接触金属层和p型欧姆接触金属层上表面,其尺寸大于其下方的欧姆接触金属层的尺寸; 二氧化硅层,其生长在露出的上n型掺杂层、上i型有源层、p型掺杂层、下i型有源层、下n型掺杂层、n型欧姆接触金属层、p型欧姆接触金属层的表面以及两侧面,还生长在加厚金属层的两侧面。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |