发明名称 |
多轴电容式加速度计及加速度检测方法 |
摘要 |
本发明提供了一种多轴电容式加速度计及加速度检测方法,所述多轴电容式加速度计的Z轴加速度计的两个Z轴结构层分别放置于XY轴加速度计两侧,该结构可减小封装形变引起的误差,从而提高多轴电容式加速度计的灵敏度。 |
申请公布号 |
CN103645342A |
申请公布日期 |
2014.03.19 |
申请号 |
CN201310659158.5 |
申请日期 |
2013.12.06 |
申请人 |
杭州士兰微电子股份有限公司 |
发明人 |
汪建平;邓登峰 |
分类号 |
G01P15/125(2006.01)I;G01P15/18(2013.01)I |
主分类号 |
G01P15/125(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
一种多轴电容式加速度计,包括基底和XY轴结构层,所述XY轴结构层包括可动质量块、中心锚点、弹性结构以及多个检测电极,所述多个检测电极用于检测X方向和Y方向的加速度,所述可动质量块与所述中心锚点和弹性结构相连,其特征在于,所述多轴电容式加速度计还包括分别位于XY轴结构层两侧的两个Z轴结构层。 |
地址 |
310012 浙江省杭州市黄姑山路4号 |