发明名称 |
离子注入角度监控方法 |
摘要 |
本发明公开了一种离子注入角度监控方法,包含提供一晶片;利用离子注入机按不同的注入角度注入预定能量、剂量的离子,并进行快速热退火处理;进行数据测量,建立电阻值—注入角度特征曲线,并确定监控参考角度,将该监控参考角度、预定能量、剂量的离子设为离子注入条件;定期在所述离子注入条件下进行离子注入,并测量相应的晶片电阻值;根据所测量的晶片电阻值与电阻值—注入角度特征曲线确定离子注入角度的准确性。本发明能够对离子注入过程中晶片的偏转角度进行准确的监控。 |
申请公布号 |
CN103646892A |
申请公布日期 |
2014.03.19 |
申请号 |
CN201310630276.3 |
申请日期 |
2013.11.29 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
胡荣;戴树刚 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I;H01J37/317(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 |
代理人 |
吴世华;陶金龙 |
主权项 |
一种离子注入角度监控方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一晶片;在上述晶片中,利用离子注入机按不同的注入角度注入预定能量、剂量的离子,并进行快速热退火处理;在以每一注入角度进行离子注入和快速热退火处理之后,均进行数据测量,获得所述不同注入角度下的晶片电阻值,建立电阻值—注入角度特征曲线;根据所述电阻值—注入角度特征曲线确定监控参考角度,并将该监控参考角度、预定能量、剂量的离子设为离子注入条件;定期在所述离子注入条件下进行离子注入,并测量相应的晶片电阻值;以及根据所测量的晶片电阻值与电阻值—注入角度特征曲线确定离子注入角度的准确性。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |