一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统

摘要

本发明公开了一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统，该方法包括：将中间设备线路侧的STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道并连接SDH测试仪，中间设备线路侧的STM-1接口对接被测设备的STM-1接口；SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；其中，N为大于等于2的整数。本发明利用中间设备完成多路E1口串接及其到STM-1接口的映射，通过网管完成对STM-1接口上多路E1口的每路E1口的监控，实现了STM-1接口上多路E1口的同时测试。

主权项

一种实现STM‑1接口的多路E1口的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：A、将中间设备线路侧的STM‑1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；B、将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；C、将所述N路E1口串联测试通道连接同步数字体系SDH测试仪，并将中间设备线路侧的STM‑1接口对接被测设备的STM‑1接口；以及D、所述SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM‑1接口的所有E1口同时进行测试；其中，N为大于等于2的整数；其中，所述STM‑1接口是通道化STM‑1接口。